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产品信息    
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XLE-2大平台检测显微镜
XLE-2大平台检测显微镜
2106031

XLE-2大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为:正置式、三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机,照相机直接拍照,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,存储、查询,可省去复杂烦琐的摄影,洗印等暗室工作,大大的提高了工作效率。

产品特点

1、放大倍数:40倍至500倍;
2、超大型载物台,样品可作大范围的纵、横方向快速移动,扩大检测领域的使用范围。
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。
·技术参数
 

1、机械筒长 160mm。
2、物镜
放大倍数
数值孔径
有效工作距离(mm)
介质
0.10
17.912
10×
0.25
6.544
20×
0.40
1.05
40×
0.65
0.736
3、目镜
放大倍数
焦距
视场直径
备注
10×
25
18
12.5×
25
14
选配
4、放大倍数  40×--400×。
5、载物台面积  350mmX255mm 。
   纵向移动范围---200mm
   横向移动范围---200mm
6、粗微动调焦范围 25mm。微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm。
7、光源 钨卤素灯6V20W,内藏式连续调光电源。
8、物镜转换器  四孔式 (三孔式)。
9、目镜筒  三目镜  (双目镜)。

TEL:15319737635
    13201739318
QQ:2841034937  

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相关参数
 型号: XLE-2大平台检测显微镜
 主要参数:
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