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XLE-1大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。
产品特点
1、放大倍数：40倍至500倍。
2、超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围。
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。
·技术参数
1、机械筒长 160mm
2、物镜
|
放大倍数 |
数值孔径 |
有效工作距离（mm） |
介质 |
|
4× |
0.10 |
17.912 |
干 |
|
10× |
0.25 |
6.544 |
干 |
|
20× |
0.40 |
1.05 |
干 |
|
40× |
0.65 |
0.736 |
干 |
3、目镜
|
放大倍数 |
焦距 |
视场直径 |
备注 |
|
10× |
25 |
18 |
|
|
12.5× |
25 |
14 |
选配 |
4、放大倍数 40×--500×
5、载物台面积 350mm×255mm
纵向移动范围---200mm
横向移动范围---200mm
6、粗微动调焦范围 25mm，微调转动一圈样品升降0.2mm，格值0.002mm
7、光源 钨卤素灯6V20W，内藏式连续调光电源。
8、物镜转换器 四孔式 (三孔式)。
9、目镜筒 三目镜 (双目镜)。 |
TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937
温馨提示：咨询时，请提供产品编号
(左侧图片下7位数字)
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