0302018 |
CMI563表面铜厚测试仪专为测量刚性或柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。 CMI563测厚仪采用微电阻测试技术,提供了准确和精确测量表面铜铜厚(包括覆铜板、化学铜和电镀铜板)的方法。 由于CMI563测厚仪采用了市场上最为先进的测试技术,印刷电路板背面铜层不会对这款测厚仪测量结果产生影响。 创新性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换,更换探针更为方便和经济。 CMI563测厚仪可由用户选择所测试的铜箔类型,既化学铜或电镀铜;甚至无需用户校准,即可测量线形铜箔厚度。这款测厚仪配有NIST(美国国家标准和技术学会)认证的校验用标准片,不同厚度供您选购。 |
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