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西安明克斯检测设备有限公司向国内用户提供ST4000薄膜测厚仪,欢迎选购。
一、ST4000薄膜测厚仪介绍:
使用K-MAC公司的先进光谱系统,可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口,并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建,而测量过程也仅需要基础的电脑知识。
二、ST4000薄膜测厚仪特点:
1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
三、ST4000薄膜测厚仪技术参数:
尺寸 |
500 x 610 x 640 mm |
重量 |
45Kg |
类型 |
手动的 |
测量样本大小 |
≤ 8", 12" |
测量方法 |
非接触式 |
测量原理 |
反射计 |
特征 |
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射 |
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TEL:15319737635 QQ:2841034937 温馨提示:咨询时,请提供产品编号 (左侧图片下7位数字)
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