DH-PN-1

PN结正向压

降温度特性

实验仪

本实验仪是在恒定的正向电流条件下，测量PN结正向压降与温度的关系。本实验是集电学、热学为一体的综合性实验。

1、PN结I-V曲线测试；

2、PN结转化效率；

3、PN结半导体材料的禁带宽度。

1、测试恒流源I_F：输出电流：0～1000μA，连续可调，细度≤1μA；

2、加热电流：0～1.0A，调节细度小于0.001A，最大负载电压不小于15V，3位半LED数显；

3、温度传感器AD590：温度范围：218.2°K ～423.2°K  (即-55℃～150℃)，输出电流：218.2μA～423.2μA (以1μA / k正比于绝对温度)，测温精度：0.5℃

4、PN结正向压降由三位半LED显示，量程2V，误差小于±1%；

5、温度测量量程：0-150℃，三位半LED显示。

价格：0

DH-PN-2

PN结特性研究与玻尔兹曼常数测定仪

我们从物理实验的需求出发，以最基本的PN结半导体器件，开设了一个半导体物理实验，根据PN结的正向压降与其正向电流、温度的关系，研究PN结的伏安特性，测量波尔兹曼常数，估测半导体材料的禁带宽度，从而很好地学习和掌握一些重要的半导体物理知识。

1、测量同一温度下，正向电压随正向电流的变化关系，绘制伏安特性曲线；

2、在同一恒定正向电流条件下，测绘PN结正向压降随温度的变化曲线，计算灵敏度，估算被测PN结材料的禁带宽度；

3、学习用Execl进行指数函数的曲线回归方法，并计算出玻尔兹曼常数；

4、探究：用给定的PN结测量未知温度。

1、开放式设计，提供多个通用式的温度插孔，方便插入被测传感器。PN结传感器可以随时取出，进行实验和用于实际温度测量。除PN结传感器外，可根据自有条件，用来测量热敏电阻、铜电阻、热电偶、 AD590和LM35等温度传感器，具有很好的拓展性；

2、精确测量玻尔兹曼常数。没有采取常规的加正向压降测正向微电流的方法，而是设计了一个能稳定输出1nA～1mA范围的精密微电流源，解决了测量微电流跳字、不稳定的问题，能准确地测量正向压降；

3、在常温下就能估测出绝对零度时硅材料的禁带宽度，而不需要在冰水混合物中测量，避免了由于冰水混合物温度失准带来的误差。

1、控温范围：室温～120℃，温度控制精度：±0.2℃，分辨率：0.1℃，控制方式：PID控制；

2、PN结传感器2个：S9013、C1815，小功率NPN晶体三极管的CB结短路而形成的PN结；

3、电流输出范围1nA～1mA分4段可调，调节细度：最小1nA，开路电压：约5V；

4、微电流显示范围：10^-9～2×10^-6A，分辨率10^-9A；

5、正向压降测量范围：0～2V，分辨率：1mV。

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