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XGL-2/2A型半导体泵浦激光原理实验系统
XGL-2/2A型半导体泵浦激光原理实验系统
3804010

XGL-2/2A型半导体泵浦激光原理实验系统

    XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源，激光晶体为ND:YVO4以及KTP倍频晶体等，构成整个实验系统。主要适用于大学近代物理教学，学生可以自己动手，通过调整激光器光路，观察倍频现象，并测量倍频效率、相位匹配角等参数，从而进一步了解和掌握激光原理及激光技术。

成套性：
光学导轨、二维调整架、四维调整架；
泵浦光源：808nm半导体激光器
指示光源：He-Ne激光器
晶体：ND:YVO4以及KTP
输出镜     激光功率计

可开实验：
半导体激光（LD）与LD泵浦固体激光器的原理与区别
激光阀值、激光斜率的测量
激光倍频原理和实验
激光发散角测量
激光器光斑尺寸的测量

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937  
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