可用于霍尔效应实验,并且研究亥姆霍兹线圈的磁场分布规律。
主要实验内容
1、学习霍尔效应原理,测绘霍尔元件的VH—Is,VH—IM曲线;
2、测量单个通电圆线圈轴线上(X方向)各点的磁感应强度;
3、测量亥姆霍兹线圈轴线上各点的磁感应强度;比较和验证磁场叠加原理。
4、测量两个通电圆线圈不同间距时的线圈轴线上各点的磁感应强度;
5、测量亥姆霍兹线圈Y方向和Z方向上B的分布;
主要技术参数
1、励磁电流IM:0~0.500A可调,3位半数显,调节细度:1mA;
2、霍尔片工作电流IS输出范围:直流0~5.00mA,3位半数字表测量,调节细度:10μA,负载电阻范围:0~1KΩ;
3、VH、Vσ测量输入范围:VH:直流±0~19.99mV,3位半数字表测量,分辨力10μV;Vσ:直流±0~1999mV,3位半数字表测量,分辨力1mV;
4、亥姆霍兹线圈:线圈等效半径:100mm,二线圈中心间距:50~200mm连续可调;线圈匝数:500匝(单个),线圈电阻:约15Ω;
5、霍尔元件:砷化镓霍尔元件,四端引出,灵敏度>140mV/(mA·T);霍尔片的厚度的d为0.2mm,宽度 为1.5mm,长度L为2.5mm;
6、三维可调装置:X、Y、Z三向分别±20cm、±7cm、±7cm可调。 |