CH-1-S/CH-1-ST/CH-1-N型薄膜测厚仪

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CH-1-S/CH-1-ST/CH-1-N型薄膜测厚仪

0301007

CH-1-S测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。C H-1-SY用于压敏胶粘带测厚仪.

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937
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参考价格(0表示面议)：	800/850/850
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相关参数
型号：	CH-1-S薄膜测厚仪/C H-1-SY压敏胶粘带测厚仪
技术参数：	1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm；2. 上测头曲率半径：15-50mm；3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N；4. 测量精度：100um以内＜1um、100-250vm＜2um、250um＜3um
备注：

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