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硅片/塑料膜厚度测试仪
硅片/塑料膜厚度测试仪
0301014

硅片/塑料膜厚度测试仪应用于:塑料胶片、塑料膜、硅片生产商。

 

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ:2841034937  

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相关参数
 型号: 硅片/塑料膜厚度测试仪
 技术参数: 系统高精度:优于± 0.2 μm 固钢支架:直径80mm的坚固钢圈及铸钢基座,适用于精确的重复测量。 线性:贯穿整个12mm或25mm的测量范围。 操控简便:提供控制器的用户友好设置界面,可设置单位及其它特性。 压强极低:LE 1000-2的修正版本可提供“最低压强”,适用于薄膜厚度测定 ;RS-232 输出:可连接计算机或数据采集系统;数据采集系统:传输实时数据到Excel®, Access®或其它Windows适用程序,可同时将信息发送到CSV 磁盘文档 (可选择) 自动归零按钮:仪器闲置时可自动归零,轻易实现测量的增减。 柱塞驱动:通过电力释放装置,或工作部件,或气压 测量范围更长:60mm及100mm适用 LCD显示:可显示测量结果、设置参数及操控功能。 完整的系统:包括传感器、控制器、支架、钢索起重器(with MT12/25)及std. 测量端
 备注: 最新式的高精度内部光学测量仪器。通过电缆释放装置(cable release)或空气压力连接柱塞驱动。适用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精确测量。LE 系列是大部分测量应用的理想仪器。
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