BMH-J3数显薄膜测厚仪

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BMH-J3数显薄膜测厚仪

0301005

BMH-J3数显薄膜测厚仪: 本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。尤其适用于薄膜 ,是实验室常用的检测工具。

TEL:13201739318.15319737635wx
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相关参数
型号：	BMH-J3
技术参数：	1.本品测量范围：（0-25）mm，分辨率：0.001mm;2.2、测厚仪工作温度： 0℃～+40℃，储运温度：-20℃～+70℃。环境相对湿度： ≤80%
备注：

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