OPT-2003长余辉荧光粉发光特性测试装置,本系统是为了测量长余辉荧光材料光变特性而专门设计的。系统可在计算机控制下对样品进行自动测量。

性能及技术指标：
1、  光度计：测量范围：0 — 19.99cd/m2    最小分辨10-5 cd/m2,V(λ)匹配误差：f1≤ 8%,精度：：±4%±1字,
2、  光  源：另购选配.(光源目前有两种，一种是可见光的.一种是紫外光.)
)
3、  电动快门：由计算机控制，开启时间可设定。
4、  照度监测用照度计：31/2 位显示器,V(λ)匹配误差：f1≤5% , 精度±4%±1字,
5、  光度计及光源用电源：AC220±20V，50HZ,
6、  使用环境：温度20±15℃,湿度≤85%RH.
选配件：
计算机(要求CPU 1.0Ghz,内存128MB以上,有可使用PCI卡插槽,操作系统为Windows XP)  

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937  
温馨提示：咨询时，请提供产品编号
(左侧图片下7位数字)