西安明克斯检测设备有限公司向国内用户提供SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统，欢迎选购。
一、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统介绍：
SSP3112-X型测试系统由SSP3112 LED光色电分析系统和LED 芯片测试平台组成。测试平台则由样品台（移动范围为75*75mm）、探针架（三维）、光纤和光强测量支架、显微镜、电路控制盒等部分构成，能够快速平稳地点亮各种LED芯片。本系统光强测试符合CIE近场条件，通过光纤传输光信号。光强测量选用近场测量条件，光纤耦合。
二、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统特点：
内置1000mA恒流源，能在1－２秒内快速测量芯片的光色电参数，并显示出数值以及光谱功率分布曲线；
测量参数包括：正向电压、正向电流、反向漏流、光强（mcd）、峰值波长、主波长、光谱半宽度（带宽）、色温、色坐标（x , y）或（u ,v）值、色纯度、显色指数、光通量、光功率等；
具有光参数，主波长，色坐标，色温和显色指数分档和显示功能，档位最大可以设到256BIN，方便与各种分光分色测试机配套；
系统具有数据库功能，可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱能量曲线图形；
自动生成报表，可直接连接打印机进行打印。
三、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统技术参数：
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指 标 |
测试量程 |
分辩率 |
|
电参数 |
恒流源 |
2.000－1000mA |
±0.5% |
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正向电压 |
0.001－20.00V |
±0.5% |
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反向电压 |
0.001－20.00V |
±1% |
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反向漏电流 |
0,1－200,0µA |
±5% |
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光参数 |
光功率 |
0..01－1000mW |
±5% |
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光通量 |
0.1－200lm |
±5% |
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色参数 |
峰值波长 |
360－760nm |
0.5nm |
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主波长 |
380－700nm |
1.5nm |
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色坐标 |
（x，y）或（u，v） |
±0.003 |
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显色指数 |
0－100 |
1 |
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色温 |
2300－25000K |
±3% |
外部参数：
工作环境： 室内使用
环境温度： 10℃～ 25℃
主机机械尺寸：340x360x130(mm)
主机重量： 6..3kg
芯片测量平台机械尺寸： 320*340*370(mm)
芯片测量平台重量：约9.5kg
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