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产品信息    
产品导航 >> 测厚仪 >> 超声波测厚仪 >> UC750单双晶超声波测厚仪
UC750单双晶超声波测厚仪
UC750单双晶超声波测厚仪
0304132
单双晶超声波测厚仪UC750
概述
采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。
此仪器可对板材和加工零件做准确测量,另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
主要功能:
● 采用“杂波飞渡技术”,一方面可以实现超薄件的测量,最小厚度(钢)可达0.15mm;另一方面可以实现高精度测厚,分辩率可达0.001mm;
● 增加双晶5M、7M探头,实现0.15-300mm的大量程高精度测量。
● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量
回波-回波模式满足薄工件测量精度高)
● 可穿越表面涂层进行测量;
● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零;
● 有LED背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;
● 具有声速校准(反测声速)或单点校准功能;
● 可以进行报警设置和差值模式设置;
● 公英制转换;毫米和英寸可切换单位
● 可存储5种不同材料的声速
● 可选配4mm单晶探头、双晶(4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头)
适用材料:
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
基本原理:
超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数:
项目
UC750
探头类型
单晶、双晶
测量范围
0.15mm300mm()
测量频率
自动识别
显示分辨率
0.001mm0.15-100mm
0.01mm100-300mm
 
声速范围
1000-9999m/s   
显示
128*64 LCD显示,LED背光
示指误差
±0.005mm(5mm以下±0.01mm (5-20mm),±0.1mm(20-300mm)
自动关机
5分钟无操作后自动关机
工作温度
-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20
工作电压
两节5#1.5V AA电池,当电量不足时,有低电压提示
操作时间
碱性电池最长可使用200小时(不使用背光)
数据存储
500个数值存储功能
默认储存声速
可存储5种不同材料的声速,并且连续特调。
外形尺寸
153mm*67mm*26 mm
整机重量
220g
标准配置
主机1台、15M单晶探头1支、5M双晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1
可选配置
4mm单晶探头、双晶(4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头)数据传输线

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ:2841034937  

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相关参数
 型号: UC750单双晶超声波测厚仪
 测量范围:
 管材测量下限:
 校准:
 示值误差:
 声速范围:
 显示:
 被测物表面温度:
 探头接触面积:
 电压指示:
 电源:
 操作时间:
 外形尺寸:
 重量:
 配置:
 选购件:
 备注:
 主要功能:
 基本原理:
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