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产品信息    
产品导航 >> 光学测量仪器 >> 端度仪 >> JDG-S2/JDG-S3数显立式光学计
JDG-S2/JDG-S3数显立式光学计
JDG-S2/JDG-S3数显立式光学计
2705014

JDG-S2 数显立式光学计
一. 产品简介
JDG-S2 数显立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。
主要用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精
密测量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,
对被测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
二. 技术规格
1.测量范围:0-200mm
2.示值范围:0-10mm
3.最小显示值:0.001mm
4.测量力:2N±0.2N
5.光学计管配合尺寸:φ28mm
6.测量杆外径:φ6mm
7.示值误差:0-0.2μm 比较测量时 ±0.00025mm 0-10mm 直接测量时 ±0.0005 mm
8.示值变动(稳定性):≤0.0001 mm
9.读数方式:数字显示
10.仪器外形尺寸:300×170×440 mm
11.仪器重量:18kg
三. 配置清单
1.数显立式光学计/1 台
2.圆形带筋可调式工作台/1 件
3.圆形平面可调式工作台/1 件
4.φ2、φ8 平面测帽/各 1 只
5.R20 球面测帽/1 只
6.1.5X8 刃型测帽/1 只
7.电源电缆/1 根
8.信号电缆/1 根
9.产品合格证、保修卡及说明书/1 份。

JDG-S3 液晶数显立式光学计
一. 产品简介
JDG-S3 立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸。主要
用于对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测
量,本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线测量等方面,对被
测件作微小位移测量,及对非金属如:薄膜、纸张等的厚度测量。
二. 技术规格
1.测量范围:0-200mm
2.示值范围:0-10mm
3.最小显示值:0.05μm
4.测量力:2N±0.2N
5.光学计管配合尺寸:φ28mm
6.测量杆外径:φ6mm
7.示值误差:0-0.2μm 比较测量时 ±0.00025mm 0-10mm 直接测量时 ±0.0005 mm
8.示值变动(稳定性):≤0.0001 mm
9.读数方式:液晶数字显示,3 英寸液晶显示屏
10.仪器体积:300×170×410 mm
11.仪器重量:18 kg
三. 配置清单
1.数显立式光学计 /1 台
2.圆形带筋可调式工作台/1 件
3.圆形平面可调式工作台/1 件
4.φ2、φ8 平面测帽/各 1 只
5.R20 球面测帽 /1 只
6.1.5×8 刃型测帽 /1 只
7.电源电缆/1 根
8.信号电缆 /1 根
9.产品合格证、保修卡及说明书/1 份

TEL:13201739318.15319737635wx
QQ:2841034937  

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相关参数
 型号名称: JDG-S2数显立式光学计
 主要技术参数:
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