SEM&TEM 样品磨制系统(Micro-Precise Cross-Sectinoing System)
适用于大多数的固态材料的SEM和TEM样品的制备。优秀的定点磨削和样品磨制状况的随时观察功能,尤其适用于电子类产品的失效分析实验。
TEL:13201739318.15319737635wxQQ:2841034937 温馨提示:咨询时,请提供产品编号(左侧图片下7位数字)
XA10653