0402003 |
该冲击试验箱为待测品静置制冷、热交替冲击方式，广泛使用于电子零部件测 试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱上部为低温蓄 冷区。下部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时， 下风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，下风门关闭，上风门打开，形成 低温内循环。如果有需要，还可以与环境温度连通（通过后风门打开来实现） 形成三箱法试验。 |
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