0302068 |
西安明克斯为您提供ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪,欢迎选购。
一、ST-2000/ST-4000/ST-5000/ST-6000/ST-7000/ST-8000/ST4080-OSP超精密光学薄膜厚度测试仪技术参数：
ST-2000
|
平台尺寸 |
150 x 120mm(70 x 50mm行程) |
|
测量范围 |
200A~35um(取决于薄膜类型) |
|
测点尺寸 |
一般20um |
|
测量速度 |
1 sec/site |
|
应用领域 |
Polymers : PVA, PET, PP, PR
Dielectrics : SiO 2, TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS.
*Supporting up to 3 Layers
*Supporting Backside Reflection |
|
镜 筒 |
三筒 |
|
目 镜 |
内倾四孔转换器 |
|
放大倍率 |
40× ~ 500× |
|
照明类型 |
12V 35W卤素灯 内置控制器及变压器 |
ST-4000
|
平台尺寸 |
500mm x 300mm (200mm x 200mm行程) |
|
测量范围 |
100A~50um(取决于薄膜类型) |
|
测点尺寸 |
40um/20um/10um
4um(可选) |
|
测量速度 |
1 sec/site |
|
应用领域 |
兼容 ST2000 型所有应用 & 测量更精确 测量Wafer & OLED |
|
选 件 |
可编程自动X-Y-Z平台 |
|
对 焦 |
同轴粗调及微调 |
|
入射照明 |
12V 100W卤素灯 |
ST-5000
|
平台尺寸 |
500mm x 500mm (300mm x 300mm行程) |
|
测量范围 |
100A~50um(取决于薄膜类型) |
|
测点尺寸 |
40um/20um/10um
4um(可选) |
|
测量速度 |
1 sec/site |
|
应用领域 |
兼容 ST2000 型所有应用 & 测量更精确 测量大尺寸Wafer |
|
选 件 |
参考试样
防震台
自动对焦
CCD摄像头 |
|
回转目镜 |
内倾四孔转换器 |
|
对 焦 |
同轴粗调及微调 |
|
入射照明 |
12V 50W卤素灯 |
ST-6000
|
平台尺寸 |
1300mm x 1100mm
自动厚度测量 |
|
测量范围 |
100A~50um(取决于薄膜类型) |
|
测点尺寸 |
40um/20um/10um/4um(可选20,10,5,2um) |
|
测量速度 |
1~2 sec/site |
|
应用领域 |
Polymers : PVA, PET, PP, PR
Dielectrics : SiO 2 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
Intended for TFT-LCD, STN-LCD |
|
选 件 |
可编程自动X-Y-Z平台
自动对焦
CCD摄像头 |
ST-7000
|
平台尺寸 |
1700mm x 1200mm
自动厚度测量 |
|
测量范围 |
100A~50um(取决于薄膜类型) |
|
测点尺寸 |
40um/20um/10um/4um |
|
测量速度 |
1~2 sec/site |
|
应用领域 |
Polymers : PVA, PET, PP, PR
Dielectrics : SiO 2 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4
semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
Intended for Large size PDP |
|
选 件 |
可编程自动X-Y-Z平台
自动对焦
CCD摄像头 |
|
功 能 |
Pattern Identification by Pattern Maching
Entry-level CD Measurement |
ST-8000
|
平台尺寸 |
1300mm x 1100mm
全自动厚度测量 |
|
测量范围 |
100A~25um亚微米级尺寸 |
|
测点尺寸 |
~0.2um x 0.2um |
|
测量速度 |
14sec/Area |
|
应用领域 |
|
|
选 件 |
自动对焦
CCD摄像头 |
|
功 能 |
Pattern Identification by Pattern Maching
Entry-level CD Measurement
亚微米级尺寸表面上的薄膜厚度测量 |
ST4080-OSP
ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于分析测量PCB/PWB上OSP涂层铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性已经得到了证实。
为什么要选择 ST4080-OSP?
ST4080-OSP 使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。
ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。
ST4080-OSP 测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.
ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。
ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
ST4080-OSP 可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序最优化。
|
波长范围 |
420nm ~ 640nm |
|
厚度测量范围 |
350A ~ 3μm |
|
最小光斑尺寸 |
1.35 μm, 0.135 μm |
|
目标面积 |
864X648 μm / 86.4X64.8 μm |
|
物镜转动架 |
5X(spot size 20 μm), 50X(spot size 0.2 μm) |
|
测量层 |
1 |
|
固定样台面积 |
270mm(L) X 240mm(D) |
|
Z轴再现性 |
± 1 μm |
|
自动Z装置 |
Z direction Head Movement
Travel range: 50mm
Max. velocity: 50mm/s |
|
特征 |
Non-destructive OSP thickness measurement
No sample preparation for fast and easy operation
Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions
Auto-focusing function
3D contours results | |
TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937
温馨提示：咨询时，请提供产品编号
(左侧图片下7位数字)
 |
相关产品
