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西安明克斯检测设备有限公司向国内用户提供ST2000薄膜测厚仪，欢迎选购。
一、ST2000薄膜测厚仪特点：
1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
二、ST2000薄膜测厚仪技术参数：
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活动范围 |
150x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
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测量范围 |
200Å~ 35㎛ |
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光斑尺寸 |
20㎛ 典型值 |
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测量速度 |
1~2 sec./site |
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应用领域 |
聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: SiO2 , Si3N4 , TiO2 , ITO, ZrO2 , BTS, HfO2
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
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选择 |
参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) |
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探头类型 |
三目探头 |
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nosepiece |
Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
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照明类型 |
12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
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TEL:13201739318.15319737635wx
QQ：2841034937
温馨提示：咨询时，请提供产品编号
(左侧图片下7位数字)
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