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SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统
SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统
1812025
西安明克斯检测设备有限公司向国内用户提供SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统,欢迎选购。

一、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统介绍:

    SSP3112-X型测试系统由SSP3112 LED光色电分析系统和LED 芯片测试平台组成。测试平台则由样品台(移动范围为75*75mm)、探针架(三维)、光纤和光强测量支架、显微镜、电路控制盒等部分构成,能够快速平稳地点亮各种LED芯片。本系统光强测试符合CIE近场条件,通过光纤传输光信号。光强测量选用近场测量条件,光纤耦合。

二、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统特点:

内置1000mA恒流源,能在1-2秒内快速测量芯片的光色电参数,并显示出数值以及光谱功率分布曲线;
测量参数包括:正向电压、正向电流、反向漏流、光强(mcd)、峰值波长、主波长、光谱半宽度(带宽)、色温、色坐标(x , y)或(u ,v)值、色纯度、显色指数、光通量、光功率等;
具有光参数,主波长,色坐标,色温和显色指数分档和显示功能,档位最大可以设到256BIN,方便与各种分光分色测试机配套;
系统具有数据库功能,可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱能量曲线图形;
自动生成报表,可直接连接打印机进行打印。

三、SSP3112-X LED芯片光色电参数测试系统技术参数

指  标
测试量程
分辩率
电参数
恒流源
2.000-1000mA
±0.5%
正向电压
0.001-20.00V
±0.5%
反向电压
0.001-20.00V
±1%
反向漏电流
0,1-200,0µA
±5%
光参数
光功率
0..01-1000mW
±5%
光通量
0.1-200lm
±5%
色参数
峰值波长
360-760nm
0.5nm
主波长
380-700nm
1.5nm
色坐标
(x,y)或(u,v)
±0.003
显色指数
0-100
1
色温
2300-25000K
±3%
外部参数:
工作环境: 室内使用
环境温度: 10℃~ 25℃
主机机械尺寸:340x360x130(mm)
主机重量: 6..3kg
芯片测量平台机械尺寸: 320*340*370(mm)
芯片测量平台重量:约9.5kg
 

TEL:15319737635
QQ:2841034937  

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 型号:
 亮度测量范围(cd/m2):
 精确度:
 V(入)匹配误差f1:
 激发光辐射时间:
 备注:
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