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产品信息    
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X-Strata980 X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
X-Strata980  X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
0303049

X-Strata980  X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入

  •  英国牛津X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)
     The X-Strata980 出色的精准性和长期稳定性,有效改善生产过程和质量控制:
    牛津仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度,实现快速精确的分析
    高分辨半导体探测器
    通过多个初级滤波器对全元素范围实现最佳的分析效果
    多款准直器可供选择,检测样品直径最小达150μm 
    牛津仪器公司独特的低背景测量板,实现更低的检出下限电子元件
    有效调整生产过程,从而提高生产力
    确保元件可靠性
    测量焊料合金成份和镀层厚度
    优化质量控制,从而确保产品生命周期
    分析导电性镀层金和钯的厚度
    测量电脑硬盘上的NiP层厚度
     五金电镀
    电镀处理的成本最小化,产量最大化
    高可靠性镀层
    RoHS/WEEE/ELV*筛选性检测
    改善质量控制,确保产品符合环保要求
    有害元素检测结果可精确到ppm级
    量化有害元素,如Cd, Hg, Pb等,核实产品是否符合环保要求
    *) Restriction of Hazardous Substances/
    Waste Electrical and Electronics
    Equipment/End of Life vehicles (directives)
     金属成份分析和牌号鉴定,珠宝及其他合金的快速无损分析
    贵金属合金分析 ,黄金纯度分析 ,材料鉴定 ,杂质量化 ,快速简单的分析 ,同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析 ,最多可分析4层(不包括基层) ,镀液成份分析,太阳电池板和燃料电池,确保产品有效一致,光电池薄膜吸收层(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析 ,
    通过镀层厚度分析优化导电性。

TEL:15319737635
QQ:2841034937  

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相关参数
 型号: X-Strata980 X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
 主要技术参数:
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